大家在量產(chǎn)安國主控U盤的時候是否對量產(chǎn)設(shè)置里的大量設(shè)定項目完全不知道是什么，大多數(shù)朋友可能只知道跟著教程選擇就是，也不需要了解為什么要這樣設(shè)置，但如果你有興趣的話，可以在下面的教程詳細(xì)了解安國的具體設(shè)置項目是什么，具體什么意思等教程，首先給大家介紹的是其中的第一個設(shè)定項目-存儲器設(shè)定如下圖：

存儲器設(shè)定包含下面2個大設(shè)置：

一、存儲器類別：

    1、FLASH類型：顯示當(dāng)前FLASH的類型，亦可手動設(shè)置。
    2、FLASH數(shù)量：顯示當(dāng)前檢測到的FLASH數(shù)量，亦可手動設(shè)置。
通道：自動檢測當(dāng)前U盤量產(chǎn)的模式是單通道還是雙通道，亦可手動設(shè)置。
    3、讀寫回圈時間：讀寫的周期時間，亦可手動設(shè)置。
    4、禁止自動檢測：在存儲器類型欄中如果勾選“禁止自動檢測”欄，量產(chǎn)工具則不自動檢測FLASH的型號和其他配置信息，需手動設(shè)置。若不勾選“禁止自動檢測”，量產(chǎn)工具會自動檢測FLASH的型號，并根據(jù)FLASH類型自動檢測量產(chǎn)FLASH的配置文件、默認(rèn)FLASH數(shù)量和通道及讀寫回圈時間。

二、量產(chǎn)設(shè)定：

1、優(yōu)化方式
    優(yōu)化方式分為U盤速度優(yōu)先、U盤容量優(yōu)先和原低格設(shè)定：
    (1)、U盤速度優(yōu)先：U盤的讀寫速度為先取條件，容量次之。
    (2)、U盤容量優(yōu)先：U盤的容量為先取條件，不考慮U盤的讀寫速度。選擇“U盤容量優(yōu)先”時可設(shè)置當(dāng)容量大于總?cè)萘堪俜种畮讜r自動轉(zhuǎn)為“U盤速度優(yōu)先”優(yōu)化方式，且量產(chǎn)完成后會在界面上顯示C表示是容量優(yōu)先，S表示是速度優(yōu)先。
    (3)、原低格設(shè)定：使用原來低格時所選擇的優(yōu)化方式和ECC值進(jìn)行高級格式化。
注：U盤容量優(yōu)先量產(chǎn)出來的容量比U盤速度優(yōu)先量產(chǎn)出來的容量高一些，U盤速度優(yōu)先量產(chǎn)出來U盤的讀寫速度比U盤容量優(yōu)先量產(chǎn)出來U盤的讀寫速度要快一些。
2、掃描方式
    (1)、高級格式化：掃描時直接讀取FLASH的壞塊信息，量產(chǎn)速度快，適用于正品原裝FLASH及Au698x主控低級掃描量產(chǎn)過的FLASH。
    (2)、低級格式化：掃描時寫數(shù)據(jù)到FLASH再讀出來比較以確定壞塊，量產(chǎn)速度較慢。如果FLASH已經(jīng)被其它廠牌主控量產(chǎn)過，請選擇此功能。
3、低格檢測
    (1)、正常檢測：按照正常方式進(jìn)行檢測，速度快一些。
    (2)、半容量檢測：檢測FLASH的狀況判斷其是否需按照切容量方式量產(chǎn)，狀況較好的則按照正常檢測方式進(jìn)行量產(chǎn)，狀況較差的以切容量進(jìn)行量產(chǎn)，檢測時需要時間，建議Half page及狀況較差的FLASH選擇此檢測方式。
    (3)、特殊檢測-Hynix：快速掃描4+全面掃描，該檢測方式針對特殊的FLASH。
    (4)、強制半容量檢測：直接按照切一半容量方式量產(chǎn)，主要針對比較特殊的FLASH。
    (5)、干擾檢測：檢測FLASH中的block是否有干擾，若是，則將干擾的block當(dāng)作壞塊，該檢測方式針對特殊的FLASH。
    (6)、優(yōu)化對比：增加檢測FLASH的穩(wěn)定性，對于穩(wěn)定性較差的FLASH會顯示“92F00+容量”，以便對FLASH質(zhì)量等級進(jìn)行分類。
    (7)、Erase After MP：量產(chǎn)完成后擦除FW，但可以做“高格量產(chǎn)過”。
    (8)、失敗后半容量檢測：只有在非半容量檢測時該選項才可用，勾選了“失敗后半容量檢測”后，如果FLASH按照正常檢測量產(chǎn)不成功則會進(jìn)入半容量檢測再掃描一次。

4、掃描級別
（1）、高級格式化：掃描級別分為全新、全新+AA55、量產(chǎn)過、清空、僅讀標(biāo)記壞塊等五個級別：
全新：直接讀取原廠壞塊信息，量產(chǎn)速度快。
全新+AA55：在全新掃描的基礎(chǔ)上加簡單的檢測，相對“全新”掃描嚴(yán)格一些。
量產(chǎn)過：直接讀取上一次量產(chǎn)寫入的壞塊信息（必須是該量產(chǎn)工具量 產(chǎn)過），用該量產(chǎn)工具掃描過的U盤可使用“量產(chǎn)過”進(jìn)行高級格式化；支持U盤容量優(yōu)先與U盤速度優(yōu)先相互轉(zhuǎn)換，可以更改低格時所選ECC（即選擇“量產(chǎn) 過”掃描方式時所選擇的ECC值可以與之前量產(chǎn)時所選擇的ECC值不同），支持單顆Sorting后進(jìn)行單通道雙貼/雙通道雙貼“量產(chǎn)過”高級格式化，支 持低格后使用不同的主控型號進(jìn)行“量產(chǎn)過”高級格式化。詳細(xì)的說明可參考《高級設(shè)定量產(chǎn)過功能說明》文檔。
清空：將FLASH存儲的信息全部清空。
僅讀標(biāo)記壞塊：僅讀取原廠標(biāo)記的壞塊（僅適用于全新原裝片），不做量產(chǎn)。
（2）、低級格式化：掃描級別分為全面掃描和快速掃描兩大類。
全面掃描：對FLASH的所有位置進(jìn)行檢測。
全面掃描1：對于提供較快操作模式的FLASH，可加快掃描的時間。
全面掃描2：使用一般的模式掃描，容量可能會高一些。
全面掃描3：同全面掃描1，但增加檢查返回狀態(tài)，做出的容量最小。
全面掃描4：掃描兩次，全面1+Y掃描。
注意：
a、全面掃描1有可能比全面掃描2掃描出較多的壞塊，但對大部分FLASH來說量產(chǎn)出的穩(wěn)定性并無明顯差別。
b、U盤速度優(yōu)先建議選全面掃描1，U盤容量優(yōu)先建議選全面掃描2。
快速掃描：對FLASH的部分位置進(jìn)行檢測，以快速的方式獲得FLASH的大致容量。快速掃描1-4掃描方式都同全面掃描1，只是掃描block時的 page數(shù)會依次減半，快速掃描4最快。快速掃描只是快速獲得FLASH的大致容量，可能會造成U盤不穩(wěn)定，請用戶謹(jǐn)慎使用。
（3）、ECC設(shè)定
質(zhì)量較差的FLASH需要開放ECC對FLASH的壞塊進(jìn)行糾錯，可提高一定的容量，但也可能存在一定的風(fēng)險。ECC=0時最嚴(yán)格，低格出的FLASH最穩(wěn)定；ECC=15時最寬松，容量可能較大，但可能存在一定的風(fēng)險。
原低格設(shè)定是指使用上一次低級格式化時所選擇的ECC值。
（4）、高級設(shè)定

    ECC微調(diào)級別：可對ECC進(jìn)行微調(diào)，級別1-4，可適當(dāng)提高FLASH的容量，建議選擇級別1。
    低格校正：ECC的二次掃描，可以使得ECC掃描更為準(zhǔn)確，但花費的時間會多一些，勾選時才生效。
    掃描次數(shù)：可手動設(shè)置低格掃描的次數(shù)，可以使得掃描更為準(zhǔn)確，但花費的時間會多一些，勾選時才生效。
    Patten：可以選擇不同的Patten進(jìn)行掃描，主要針對比較特殊的flash。
    Use Block Mode：手動選擇做全部block或者偶數(shù)block或者奇數(shù)block。
    Cache Program：手動選擇打開或關(guān)閉cache program command。

   總結(jié)：有了上面詳細(xì)的解釋，相信大家對為什么要這樣選擇量產(chǎn)會有新的認(rèn)識。

下一章我們將解釋設(shè)置第二個大項目--裝置方式設(shè)定的詳細(xì)解釋教程。